제목 | 나노분석기술 및 원자현미경 국제세미나 개최 | ||||||
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담당자 | 신재혁 | 담당부서 | 소재부품표준과 | 등록일 | 2004-08-17 | 조회수 | 2599 |
첨부파일 | 나노분석기술-리플렛.pdf |
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내용 |
우리원 기간산업기술표준부 소재부품표준과에서는 다음과 같이 세미나를 개 최하오니 많이 참석하여 주시기 바라며 참가를 원가시는 분께서는 첨부한 팜 플렛상의 신청서나 이메일 등을 통해 신청하여 주시기 바랍니다. □ 개최배경 ○ 나노기술 분야의 발전속도가 가속화됨에 따라 NT 및 BT 에서의 원자현미 경 응용 가능분야가 기하급수적으로 증가하여 산업화와 접목과 표준의 도입 이 불가피하여 국제표준화 기구에 기술분과위원회의 설립을 제안하여 우리나 라가 국제간사국 및 의장을 수임하게 됨 ○ 이에 따라 나노분석, 특히 원자현미경 분야에 대한 국내외 관계자들 의 관 심 제고 및 첨단 원자측정기술의 보급을 위해 세미나를 개최 하게 됨 □ 개최 개요 ○ 제 목 : 나노분석기술의 국제표준화 동향 및 원자현미경의 역할 ○ 일 시 : ‘04. 8. 23 (월) 13:30 ~ 17:15 ○ 장 소 : 기술표준원 중강당 ○ 주제발표 : - Dr. Yoshihara (Vice President, National Institute of Materials Science) : The State of Art in ISO/TC201 Standardization (Nano Analysis Technology) - 국양 교수 (서울대학교 물리학과) : Recent Advances in Scanning Tunneling Microscopy - 문대원 그룹장 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) : 나노분석의 현황과 전망 - 박상일 사장(PSIA) : Nanoscale Metrology with AFM and Its Industrial Applications - Dr. Kurosawa (National Metrology Institute of Japan, Advanced Industrial Science and Technology) : Development of a length-unit traceable atomic force microscope for dimensional nanometrology at NMIJ - 윤의성 박사(KIST) : 원자현미경을 이용한 나노 응착/마찰 측정기술 및 표준화 - 김정용 박사 : 근접장광학현미경(NSOM)을 이용한 나노분석기술 - 신재혁 박사(산업자원부 기술표준원) : TC201/SC9(원자현미경) 분야의 표준화 현황 및 향후 추진계획 ○ 문의 : 기술표준원 소재부품표준과 신재혁 (02-509-7292, 016-226-7230) |